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IEC 62321更新進(jìn)展
IEC 62321是國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)制定的關(guān)于電子電氣產(chǎn)品中限用有害物質(zhì)的測(cè)試方法。IEC 62321：2008是一個(gè)‘獨(dú)立’的標(biāo)準(zhǔn)，其中包括介紹、測(cè)試方法、機(jī)械制樣的概述、以及各種測(cè)試方法的條款。2013年5月17號(hào)開(kāi)始將IEC 62321：2008拆分為一系列標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)導(dǎo)入新的測(cè)試方法或儀器，詳情如下。
已更新系列標(biāo)準(zhǔn) 2013年 nIEC 62321-1 簡(jiǎn)介和概述 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)一至四章節(jié) 主要變化：基本一致 nIEC 62321-2 樣品的拆卸、拆解和機(jī)械拆分 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)第五章節(jié) 主要變化：基本一致 nIEC 62321-3-1 電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴的篩選 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)第六章節(jié) 主要變化：基本一致 nIEC 62321-3-2 使用C-IC對(duì)聚合物和電子產(chǎn)品中的總溴進(jìn)行篩選 文件說(shuō)明：新增章節(jié) 主要變化：2013版增加了新的方法（C-IC） nIEC 62321-4 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物、金屬和電子材料中的汞 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)第七章節(jié)并新增內(nèi)容 主要變化：2013版增加了新的方法（熱解析金汞齊化系統(tǒng)） nIEC 62321-5 使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物和電子材料中的汞、鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)八至十章節(jié)并新增內(nèi)容 主要變化：2013版增加了總鉻的測(cè)試要求及新的檢測(cè)方法（AFS） 2015年 nIEC 62321-6 使用GC-MS、IAMS和HPLC測(cè)定聚合物和電子材料中的多溴聯(lián)苯 和多溴二苯醚 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)附錄A并新增內(nèi)容 主要變化：2015版增加了新的檢測(cè)方法（IAMS/HPLC） nIEC 62321-7-1 通過(guò)比色法測(cè)定金屬無(wú)色和有色防腐鍍層中六價(jià)鉻 文件說(shuō)明：替代2008版標(biāo)準(zhǔn)附錄B 主要變化：關(guān)于六價(jià)鉻的前處理及上機(jī)測(cè)試部分未做改動(dòng)，對(duì)結(jié)果的陰性陽(yáng)性判定基準(zhǔn)改為小于0.1μg/cm2陰性、大于0.13μg/cm2陽(yáng)性、0.1μg/cm2~0.13μg/cm2不確定 待發(fā)布系列標(biāo)準(zhǔn) 2016年 nIEC 62321-4 am1 1.0 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物、金屬和電子材料中的汞 nIEC 62321-8 1.0 通過(guò)GC-MS測(cè)定高分子材料中的特定鄰苯二甲酸鹽 2017年 nIEC 62321-7-2 1.0 通過(guò)比色法測(cè)定聚合物和電子材料中的六價(jià)鉻 nIEC 62321-9 1.0 通過(guò)HPLC-MS測(cè)定高分子材料中的六溴環(huán)十二烷 2018年 nIEC 62321-3-2 2.0 使用C-IC對(duì)聚合物和電子產(chǎn)品中的氟、溴、氯進(jìn)行篩選 nIEC 62321-3-3 1.0 使用PY-GC-MS、TD-GC-MS對(duì)聚合物中的多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚、特定鄰苯二甲酸鹽進(jìn)行篩選 nIEC 62321-10 1.0 通過(guò)GC-MS測(cè)定聚合物和電子材料中的多環(huán)芳烴 注: C-IC 燃燒離子色譜法 PY-GC-MS 熱裂解氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 IAMS 離子附著質(zhì)譜法 TD-GC-MS 熱脫附氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 |
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